GB/T 11999薄膜埃萊門多夫法撕裂度儀：試驗方法

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　　薄膜埃萊門多夫法撕裂度儀(yi) 是一種專(zhuan) 門用於(yu) 測量薄膜材料撕裂強度的儀(yi) 器，在多個(ge) 領域具有廣泛的應用。以下是對其應用的詳細分析：

　　GB/T 11999薄膜埃萊門多夫法撕裂度儀(yi) 工作原理

　　將擺錘提升一定高度，使其具備一定的勢能;當擺錘自由下擺時，利用其自身貯存的能量將試樣撕裂;由控製係統計算出撕裂試樣時消耗的能量，從(cong) 而得到撕裂試樣所需要的力。

　　GB/T 11999薄膜埃萊門多夫法撕裂度儀(yi) 試驗方法

　　8.1 在試樣被撕裂的方向上測量三個(ge) 點的厚度，並取其算術平均值。注:撕裂力與(yu) 厚度之間不存在直接的線性關(guan) 係，隻有相同厚度試樣所得數據才能作比較。

　　8.2 檢查儀(yi) 器是否水平，並按儀(yi) 器使用說明書(shu) 調整零點。

　　8.3 在試驗中，為(wei) 了使擺錘在撕裂過程吸收的能量位於(yu) 擺錘總能量的20%~80%之間，應按8.4條規定的步驟先做試驗來確定是否需要增加增重擺錘或是否需采用多層試樣，每次安裝或取走重錘後，按儀(yi) 器使用說明書(shu) 調整零點。

　　8.4 抬起並固定擺錘，調節指針至起始點，將試樣裝在夾具上，使切口朝下處於(yu) 兩(liang) 夾具間距的中央，夾緊夾具，小心釋放擺錘，記錄刻度盤上撕裂試樣的讀數。

　　8.5 當試驗機裝有配套切口刀時，按8.4條將試樣夾緊後，使用此刀將試樣切口。

　　8.6 當使用恒定半徑試樣時,應廢棄撕裂線偏離恒定半徑區域的試樣，並補充試樣代替廢棄試樣再試驗。當試驗矩形試樣時，應廢棄撕裂線偏離切口線10mm以上的試樣，並補充試樣代替廢棄試樣再試驗，當撕裂線始終都偏離10mm時，改用恒定半徑試樣試驗。

　　綜上所述，薄膜埃萊門多夫法撕裂度儀(yi) 在薄膜材料的質量控製、新型材料的研發以及力學性能和失效機理研究等方麵具有廣泛的應用價(jia) 值。